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HITACHI日立原子力显微镜工作站AFM5000II
AFM5000Ⅱ工作站采用全新的图标用户界面，标准配备参数自动设置功能(RealTune® II)，即使是刚刚接触SPM的初学者或者遇到全新的样品时，也能快速获得准确的测量数据。
独有的参数自动设置功能！
RealTune® II可预测并调整悬臂的振动振幅、动作频率等主要参数，可以根据样品表面的形貌、扫描范围、扫描速度以及使用的悬臂的状况，率、高精度地调整成的测量条件。
通过新增加的参数自动设置功能（RealTune® II），可实现一键（One Click）测量。
原来需要操作才能完成的测量，现在即便是新手也可以轻松胜任。
也可用于高难度样品。
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